XRD(X 射线衍射)是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布,晶胞 形状和大小等)最有力的方法。XRD特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异,它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就显现出差异。因此,通过样品的 X 射线衍射图与已知的晶态物质的 X 射线衍射谱图的对比分析便可以完成样品物相组成和结构的定性鉴定;通过对样品衍射强度数据的分析计算,可以完成样品物相组成的定量分析;XRD 还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向(材料的织构)...等等,应用十分广泛。
1、 粉末样品要求:至少20mg,粒度均匀,研磨至手摸无颗粒感,面粉质感;
2、 块状/薄膜样品要求:长宽1-2cm(一般不小于1cm),厚度不超出15mm,测试面平整光洁;
3、不接受腐蚀性液体、放射性物质,不接受易挥发、吸水、产生有害物质的样品1、测试结果为原始数据,格式一般为raw、brml、xrdml等,或txt格式,需自行作图。
为保证服务质量,请尽量联系前期对接的检测平台试检测老师