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EBSD

仪器型号:JSM-7800F+QUANTAX EBSD eflash FS ;

预约次数:0次

测试价格:600.00 元/起

基础价格:0.00 元

仪服务周期:平均0个工作日

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项目介绍
电子背散射衍射,简称EBSD,是利用亚微米级区域背散射电子的衍射花样特征进行晶体材料显微织构分析技术。EBSD是可以做快速而准确的晶体取向测量的强有力的分析工具。主要应用是织构和取向差异的测量、微织构分析、相鉴定、应变和真实晶粒尺寸的测量。
样品要求

1、样品尺寸要求:形状规整,长:<10mm,宽<10mm,厚度<10mm。

2、金属测试表面须经过磨抛加工:机械抛光+化学侵蚀(硬度较高、原子序数大,铁基合金);机械抛光+电解抛光(纯金属/第二相细小的合金,镁合金、铝合金等);

3、下单前请将样品的状态向技术顾问说明;

4、寄送样品请固定好样品,测试面不要被触碰、污染。


结果展示

晶粒分布,如图:

常见问题

测定材料晶体结构及晶体取向的一般方法?

答:主要有X射线衍射法、透射电镜中的电子衍射法和背散射电子衍射法。X射线衍射法可获得材料晶体结构及取向的宏观统计信息,但不能将这些信息与材料的微观组织形貌相对应;透射电镜将电子衍射和衍射衬度分析相结合,可以实现材料微观组织形貌观察和晶体结构及取向分析的微区对应,但获得的信息通常是微区的、局部的,难以进行具有宏观意义的统计分析。电子背散射衍射法兼备了X射线衍射统计分析和透射电镜电子衍射微区分析的特点,是X射线衍射和电子衍射晶体结构及晶体取向分析的补充。
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