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首页> 成分分析> 成分分析> X射线荧光光谱仪(XRF)

X射线荧光光谱仪(XRF)

仪器型号:日本理学公司 RigakuZSX Primus II;

预约次数:0次

测试价格:200.00 元/起

基础价格:120.00 元

仪服务周期:平均0个工作日

立即预约 收藏
项目介绍
X射线荧光光谱法(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是基于X射线激发样品产生的荧光X射线的波长和强度进行元素定性定量的分析方法。X射线荧光光谱仪有波长色散型、能量色散型和全反射型等类型。X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,主要用于确定材料中元素的种类和含量。被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学等。
样品要求

 1、分析样品范围:固体样品、粉末样品、半导体薄膜样品(单层薄膜、多层薄膜、复合薄膜)、液体样品、不规则小面积样品、微量粉末样品等

2、样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品

3、粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品无需研磨;含碳元素含量超过10%的样品,请先将样品烧成灰,再测试;

4、块状、薄膜样品:块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间,标明测试面(表面光滑平整),块体样品最好平面平整光滑,上下面平行。

结果展示

测试元素或氧化物含量测试结果以Excel格式发送。

常见问题

1、XRF测试可以精确到多少?

XRF测试原则上可以精确到ppm级别的,但这个精度是基于标准物质的,对于样品的XRF测试只是半定量测试,误差不好判断,仅作为元素含量百分比的参考。
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