电镜测试
成分分析
高端原位
同步辐射
结构分析
力学测试
硬度测试
光学显微镜
热分析测试
化学分析
食品生物制药
环境检测
物理分析
无损检测
模拟计算
数据分析
科研绘图
机械加工
试样制备
热处理
TEM制样
力学测试
硬度测试
光学显微镜
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试样制备
热处理
TEM制样
项目介绍
样品要求
1、分析样品范围:固体样品、粉末样品、半导体薄膜样品(单层薄膜、多层薄膜、复合薄膜)、液体样品、不规则小面积样品、微量粉末样品等
2、样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品
3、粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品无需研磨;含碳元素含量超过10%的样品,请先将样品烧成灰,再测试;
4、块状、薄膜样品:块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间,标明测试面(表面光滑平整),块体样品最好平面平整光滑,上下面平行。
结果展示
测试元素或氧化物含量测试结果以Excel格式发送。
常见问题
1、XRF测试可以精确到多少?
400-169-0618
为保证服务质量,请尽量联系前期对接的检测平台试检测老师