1、分析样品范围:固体样品、粉末样品、半导体薄膜样品(单层薄膜、多层薄膜、复合薄膜)、液体样品、不规则小面积样品、微量粉末样品等
2、样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品
3、粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品无需研磨;含碳元素含量超过10%的样品,请先将样品烧成灰,再测试;
4、块状、薄膜样品:块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间,标明测试面(表面光滑平整),块体样品最好平面平整光滑,上下面平行。
测试元素或氧化物含量测试结果以Excel格式发送。
1、XRF测试可以精确到多少?
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